• <em id="hjfkf"><th id="hjfkf"></th></em>
      <var id="hjfkf"></var><nav id="hjfkf"><mark id="hjfkf"></mark></nav><big id="hjfkf"><code id="hjfkf"></code></big>
        <table id="hjfkf"><small id="hjfkf"><thead id="hjfkf"></thead></small></table>
        <var id="hjfkf"><mark id="hjfkf"><del id="hjfkf"></del></mark></var>

            1. <form id="hjfkf"></form>

                文章詳情
                所在位置: 首頁> 技術文章> 其它>

                平行平晶的測量方法

                日期:2022-07-03 04:18
                瀏覽次數:1049
                摘要:
                 
                      平行平晶是利用光波干涉現象測量平面度誤差的,故其測量方法稱為平晶干涉法,也稱技術光波干涉法。在測量的時候,把平行平晶放在被測表面上,且與被測表面形成一個很小的楔角 θ,以單色光源照射時會產生干涉條紋。干涉條紋的位置與光線的入射角有關。如果入射光線垂直于被測表面,并且平晶與被測表面間的間隙很小,則由平晶測量面P反射的光線與被測表面反射的光線在測量面 P發生干涉而出現明或暗的干涉條紋。若在白光下,則會出現彩色干涉條紋。如果干涉條紋平直,相互平行,并且分布均勻,則會表示被測表面的平面度很好;如果干涉條紋彎曲,則會表示平面度 不好。其誤差值為f= (v/ω)×(λ/2)
                       λ為光波波長,白光的平均波長為0.58μm,ν為干涉帶彎曲量,ω為干涉帶間距?! ?/span>



                尊敬的客戶:    
                      您好,我司是一支技術力量雄厚的高素質的開發群體,為廣大用戶提供高品質產品、完整的解決方案和上等的技術服務公司。主要產品有工具顯微鏡、軸承測磁儀、流水線退磁機、自動龍門退磁機等。 本企業堅持以誠信立業、以品質守業、以進取興業的宗旨,以更堅定的步伐不斷攀登新的高峰,為民族自動化行業作出貢獻,歡迎新老顧客放心選購自己心儀的產品。我們將竭誠為您服務!




                free gay xxxxvideo,free sxe hd xxxx,亚洲中文字幕无码一久久区,日本人与黑人牲交高潮